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奥林巴斯 LEXT OLS5100 3D激光扫描显微镜

奥林巴斯 LEXT OLS5100 3D激光扫描显微镜专为失效分析和材料工程研究而设计,将出色的测量精度和光学性能与智能工具相结合,使显微镜使用起来更加方便。它可以快速高效完成亚微米级形貌和表面粗糙度的精确测量,不仅简化了工作流程,还能提供值得信赖的数据。

  • 产品报价:98000
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2024-06-03
  • 访  问  量:144
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详细介绍
品牌OLYMPUS/奥林巴斯仪器分类正置显微镜
价格区间30万-40万产地类别进口
应用领域食品,石油,交通,制药,综合可售地全国
代理商北京瑞科中仪

奥林巴斯 LEXT OLS5100 3D激光扫描显微镜是一款集成了高精度、光学性能与智能工具的先进显微镜设备。它专为失效分析和材料工程研究而设计,能够快速高效地完成亚微米级形貌和表面粗糙度的精确测量任务。


这款显微镜具备出色的测量精度和光学性能,通过非破坏观察法生成高画质的图像,并能进行精确的3D测量。其综合倍率范围广泛,从54X17280X,可以满足不同领域的观察需求。此外,LEXT OLS5100配备了智能工具,如智能物镜选择助手(Smart Lens Advisor),使得系统的使用更加便捷。用户只需一次点击,即可获取准确的3D测量数据,极大地简化了工作流程。

OLS5100激光扫描显微镜还具备多种优势特点。其专用的LEXT物镜可准确测量边缘区域,提供可靠的测量数据。而且,它支持非接触、无损且快速的测量方式,无需对样品进行预先处理,只需将样品放在载物台上即可进行测量。此外,OLS5100还具备符合ISO25178标准的表面粗糙度测量功能,能够测量从线到面的表面粗糙度。

奥林巴斯 LEXT OLS5100 3D激光扫描显微镜在多个领域具有广泛的应用。尤其在半导体领域,OLS5100的智能化半导体检测功能能够克服传统显微镜的不足,实现自动对焦、高倍率观察及高精度测量,广泛应用于半导体研发、原材料质量控制、组装和故障分析等方面。同时,OLS5100的高分辨率检测效果也使其成为表面检测、零件杂质分析、芯片识别等领域的理想选择。

总的来说,奥林巴斯LEXT OLS5100 3D激光扫描显微镜是一款集高精度、智能化和便捷性于一身的先进设备,适用于各种失效分析和材料工程研究需求。其出色的性能、广泛的应用领域以及简便的操作方式,都使其成为科研工作者和工程师们的得力助手。



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